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进相器可控硅好坏判断
进相器可控硅好坏判断
 

   湖北正涵电气有限公司事专门从事工业电气控制设备和计算机工业控制系统开发的,本公司生产开关柜、水阻柜、低压柜、进相器等等产品都是本公司的明星产品,深受广大客户的好评与依赖,本公司在处理进相器一些问题时,有一些方法和经验,这边简单为大家介绍一下,希望对大家有所帮助。

   静止式进相器是串接在电机转子回路中,通过改变转子电流与转子电压的相位关系,进而改变电机定子电流与电压的相位关系,达到提高电机自身的功率因数和效率,提高电机过载能力、降低电机定子电流、降低电机自身损耗的目的。
   进相器中可控硅是将电网中工频50Hz电流转为与电机转子同频的低频电流的交交变频环节主要器件。可控硅实质上是一个通过控制极控制导通或关断的开关元件。
从可控硅上引出并用螺丝固定在绝缘板上的为可控硅的控制极,也称触发极,而接有触发线的那个散热器端子为可控硅的阴极。也可通过测量阻的办法区分阴阳极。而判断可控硅好坏的简易办法是测其各极间的阻值,好的可控硅各极间阻值如下:
   触发极与阴极——几十欧姆;
   触发极与阳极——几十千欧以上;
   阴极与阳极  ——几十千欧以上。
   实际测量时,应抽出驱动板,以保证测量准确。如发现有四只可控硅的阻值均为零时,往往只有个别可控阻值为零,应断开与之相连的母排,重新测量。更换可控硅时,应注意平衡钢球位置,务必压紧散热器,否则易产生过热而烧坏可控硅,更换后应再次检测阻值。
可控硅损坏原因判断
   当晶闸管损坏后需要检查分析其原因时,可把管芯从冷却套中取出,打开芯盒再取出芯片,观察其损坏后的痕迹,以判断是何原因。下面介绍几种常见现象分析。
   1、电压击穿。晶闸管因不能承受电压而损坏,其芯片中有一个光洁的小孔,有时需用扩大镜才能看见。其原因可能是管子本身耐压下降或被电路断开时产生的高电压击穿。
   2、电流损坏。电流损坏的痕迹特征是芯片被烧成一个凹坑,且粗糙,其位置在远离控制极上
   3、电流上升率损坏。其痕迹与电流损坏相同,而其位置在控制极附近或就在控制极上。
   4、边缘损坏。他发生在芯片外圆倒角处,有细小光洁小孔。用放大镜可看到倒角面上有细细金属物划痕。  这是制造厂家安装不慎所造成的。它导致电压击穿。
   以上就是进相器有关的小知识,希望能对大家有所帮助。

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